厚度(僅(jin) 適用微型三角度光澤儀(yi) µ):

首先選擇探頭(Fe,NFe)。 屏幕顯示校準菜單。根據選擇的Fe或NFe探討，將儀(yi) 器放在金屬標準板 上，按操作按鈕。 

零點設置完成後，屏幕顯示”AIR” (空氣），將儀(yi) 器移至半空，並按動 操作按鈕。 校準完成後屏幕顯示(OK)確認。儀(yi) 器返回到校準菜單項目。 注意： 膜厚測量通常會(hui) 受到金屬基材的影響。因此建議可在沒有塗層的金屬 樣品上進行零點校準後，再測量樣品的塗層厚度。此時樣品的基材替 代了隨機附帶的金屬板。 

更改校準數據 :

校準標準的光澤數據在隨機附帶的保護罩內(nei) 。在進行自動校準時，跟 據保護罩內(nei) 的數據設定標準。 在有些情況下，有必要輸入新的校準標準數據。例如：原配的標準板 損壞或劃傷(shang) 。  

為(wei) 確保校準，隻能使用由原廠提供的標準板 ，隻能使用由原廠提供的標準板。 按照左圖顯示的路徑到達更改校準數據菜單項。 

有三個(ge) 角度單位在選擇菜單中顯示。按動滾輪，選擇需要的角度。  

在修改前，屏幕顯示警告信息。如需取消可按動操作按鈕退出。 如果按下滾輪，您將進入更改校準數據程序。 

在接下來的屏幕中您可輸入新的校準數據。

在您輸入新的數據後，屏幕再次顯示警告信息。您可再次按動操作按 鈕取消輸入並退出。 如果您確認屏幕顯示的剛輸入的新數據，請按下滾輪。

當更改完所有的數據後，請對儀(yi) 器重新校準。

 狀態 :

該菜單項提供您儀(yi) 器校準狀態的相關(guan) 信息。 在該菜單項中您可檢查比對儀(yi) 器中存儲(chu) 的校準數據和保護罩內(nei) 的校準 數據。同時屏幕還個(ge) 別顯示zui近一次自檢或校準中某個(ge) 角度的錯誤信 息。錯誤信息的更詳細內(nei) 容參見後麵的錯誤和警告信息章節。 

您可以分別對光澤和測厚的測量數據標尺進行設置。

膜厚測量 :

膜厚探頭的功能是根據電磁感應方式（Fe）或電渦流方式（NFe）。因 此測量結果在高磁場或電磁波的環境下產(chan) 生偏差。 測量的膜厚受到磁性（Fe）或非磁性（NFe）金屬基材厚度的影響。 測量結果還會(hui) 受到諸如複合物或底材熱處理的影響發生偏差。應此推薦 在沒有塗層的產(chan) 品上進行零點校準後再進行樣品測量。 對於(yu) 粗糙的表麵也會(hui) 影響塗層厚度的測量。為(wei) 了降低隨機誤差，建議使 用多點測量法。 如果是在附有非磁性金屬層的磁性基材（例如：鍍鋅鐵板）上測量塗層 膜厚，請注意以下幾點：

● 用於(yu) NFe設置，基材厚度至少50µm。（例如非磁性塗層）

● 用於(yu) Fe設置，非磁性塗層厚度已包含在測量結果中。