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泰勒霍普森SURTRONIC DUO|粗糙度儀的詳細資料：
泰勒霍普森SURTRONIC DUO|粗糙度儀(yi)
Surtronic Duo II 手持式表麵粗糙度測量儀(yi) 被廣泛用於(yu) 生產(chan) 現場、工業(ye) 廠房和檢測室。Surtronic Duo II 可用於(yu) 評估地麵的安全性，也可幫助地麵材料製造商控製生產(chan) 過程中的粗糙度。它可靠、耐用、快速、易於(yu) 使用，並且隻需很少的培訓。Surtronic Duo II 數字式表麵粗糙度測量儀(yi) 專(zhuan) 門用於(yu) 測量表麵粗糙度，可與(yu) HSE 滑倒評估軟件結合使用，以檢查地麵的粗糙度。Surtronic 表麵粗糙度測量儀(yi) 的分辨率為(wei) 0.01 µm（0.4 µin），采用的粗糙度標準為(wei) ISO 4287。
Surtronic Duo II 是一種高級便攜式表麵粗糙度測量儀(yi) ，隻需按一鍵即可測量多個(ge) 粗糙度參數。這些參數（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會(hui) 顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池，便於(yu) 在所有環境和表麵進行快速、輕鬆和精確的現場測量。泰勒霍普森SURTRONIC DUO|粗糙度儀(yi)
Surtronic Duo II 的特點:
測量 - 觸覺測量按鈕，適用難測到的位置
分體(ti) 式 - 通過滑軌和鎖定裝置，分為(wei) 顯示/控製裝置和驅動裝置兩(liang) 部分
金剛石測針和壓電傳(chuan) 感器 - 帶金剛石堅固耐磨的壓電傳(chuan) 感器測針，確保測量結果的可靠性。
藍牙技術 - 在驅動裝置和顯示/控製裝置之間進行快速可靠的通信
篤摯儀(yi) 器(上海)有限公司為(wei) 您提供泰勒霍普森Surtronic DUO粗糙度儀(yi) 的詳細信息,包括儀(yi) 器特點,應用情況技術參數等,如果您對泰勒霍普森Surtronic DUO粗糙度儀(yi) 的信息有什麽(me) 疑問,請與(yu) 我司進行進一步聯係,獲取泰勒霍普森Surtronic DUO粗糙度儀(yi) 的更多信息及*報價(jia) 。
SURTRONIC DUO是英國泰勒公司 新型粗糙度儀(yi) ,SURTRONIC DUO新型粗糙度儀(yi) 可測 Ra , Rz 兩(liang) 種參數。 DUO 具有紅外接口可在距離被測物 1 米處進行測量。
SURTRONIC DUO新型粗糙度儀(yi) 通過儀(yi) 器底部傳(chuan) 感器直接接觸被測工件進行測量,其設計可滿足不同的技術與(yu) 工作環境要求。
SURTRONIC DUO新型粗糙度儀(yi) 快速測量 在儀(yi) 器底端接觸工件瞬間,即可讀出測量值。全部操作步驟僅(jin) 需簡單教授即可
