MIC 10-MIC 10 UCI硬度計的詳細資料：

MIC 10 UCI硬度計

GE的MIC 10可根據UCI方法（超聲波接觸阻抗 - 根據ASTM A1038和DIN 50159標準化）快速方便地進行現場硬度測試。 IC 10係列MIC 10的規格使用經過認證的Vickers測試塊。 當使用脊狀支撐（例如MIC-222試驗台）時，5個(ge) 讀數的平均值應在其認證值的±3.6％之內(nei) 。 手寫(xie) 測試應至少對10個(ge) 讀數進行平均，公差為(wei) ±5％。 作為(wei) 比較的參考，MIC 10係列可實現的±3.6％HV範圍轉換為(wei) 羅克韋爾C標度，如下表所列。 此外，為(wei) 了與(yu) 台式Rockwell測試儀(yi) 比較，還列出了由ASTM E18定義(yi) 的這些硬度水平的所需重複性。材料表麵中的金剛石壓痕被電子地測量並且即時顯示，而不使用通常與(yu) 常規硬度測試儀(yi) 相關(guan) 的麻煩的光學評價(jia) 。

測量原理簡析

傳(chuan) 統的維氏或布氏硬度測試需要在負載下由其壓痕產(chan) 生的壓痕的麵積的光學評價(jia) 。 使用UCI（超聲波接觸阻抗）方法的測試，測試壓痕的對角線（為(wei) 了確定維氏硬度值而必須已知）的對角線不像通常那樣光學地評估，但是凹痕區域通過測量 超聲頻率。

UCI方法適用於(yu) 測試薄的氮化或滲碳的表麵硬化層或塗層如鉻。 為(wei) 了確保讀數不受襯底材料的影響，必須考慮維氏硬度鑽石的穿透深度。 通常，層的厚度應該是壓痕深度的十倍的zui小值。 但是，盡管如此，試樣的總厚度應該至少為(wei) 2-3mm，否則樣品必須連接到支撐板

UCI方法適用於(yu) 測試薄的氮化或滲碳的表麵硬化層或塗層如鉻。為(wei) 了確保讀數不受襯底材料的影響，必須考慮維氏硬度鑽石的穿透深度。通常，層的厚度應該是壓痕深度的十倍的zui小值。但是，盡管如此，試樣的總厚度應該至少為(wei) 2-3mm，否則樣品必須連接到支撐板
通常，通過壓痕采樣的麵積越大，測試結果越*。非均勻材料或由大粗晶粒組成的微觀結構的變化被平均，提供*的結果。較大壓痕的另一個(ge) 優(you) 點是對表麵光潔度的要求較低，從(cong) 而減少了準備表麵的時間。相比之下，回彈測試儀(yi) 的各種衝(chong) 擊裝置產(chan) 生的壓痕遠大於(yu) 由任何UCI探針產(chan) 生的壓痕。當測試大型鑄件和鍛件時，建議使用回彈儀(yi) 。測試由均質材料或已經接受表麵硬化處理的那些組件構成的小部件需要由UCI探針產(chan) 生的較淺的凹槽。

儀(yi) 器特點

•重複測試和文檔的有效支持
•易於(yu) 硬度測試操作
?單個(ge) 或作為(wei) 活動算術平均值
?預編程校準參數
?可針對特定測試要求定製儀(yi) 器操作
?根據ASTM A 1038標準化
?測試負載從(cong) 1N（HV0.1）到98N（HV10）
?自動轉換成不同的硬度和拉伸強度
?數據記錄器版本，帶有用於(yu) 測量數據和儀(yi) 器設置的內(nei) 部數據存儲(chu) 器

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