霍爾效應瓶壁測厚儀FH7200*的詳細資料：

霍爾效應瓶壁測厚儀(yi) FH7200*

自1948年德國Steingoever博士發明*台利用磁吸力原理的測厚儀(yi) 以來，德國EPK公司一直是表麵科技的*之一、是無損塗層厚度測量的。 ElektroPhysik公司(簡稱EPK)總部位於(yu) 德國科隆，是生產(chan) 表麵檢測儀(yi) 器的，有超過60年的市場經驗，研發和生產(chan) 了品種繁多的的測量儀(yi) 器。質量是EPK的主要目標，EPK從(cong) 研發到使用、維修各個(ge) 環節，都符合ISO 9001：2000質量體(ti) 係，始終為(wei) 每一個(ge) 應用領域提供適合的產(chan) 品。

EPK在不斷開發和創新科技產(chan) 品過程中，贏得了良好的聲譽。作為(wei) 無損檢測厚度行業(ye) 的*，EPK與(yu) 國內(nei) 的研究所和大學合作，實現了塗層厚度測量的成功發展和標準化。將來，EPK將全力發展自己的產(chan) 品以符合zui高技術要求。

化的今天，EPK在世界各地都設有自己的分支機構和經銷商。

霍爾效應瓶壁測厚儀(yi) FH7200*

準確測量厚度  

●適用於(yu) 非磁性材料的測量  

●測量厚度高達10mm  

●是複雜形狀的瓶子、鋁罐、玻璃和塑膠工件的理想測量工具  

●用戶菜單控製界麵  

●上下文關(guan) 聯的在線幫助  

●統計過程控製功能  

FH7200壁厚測厚儀(yi) 功能特點：

*準確測量厚度
*適用於(yu) 非磁性材料的測量
*測量厚度高達10mm
*是複雜形狀的瓶子、鋁罐、玻璃和塑膠工件的理想測量工具
*用戶菜單控製界麵
*上下文關(guan) 聯的在線幫助
*統計過程控製功能
*高精度厚度測量