MiniTest 7400測厚儀精密支架的詳細資料：

德國EPK MiniTest 7400測厚儀(yi)

塗層測厚儀(yi) ：

采用電磁感應法測量塗層的厚度。位於(yu) 部件表麵的探頭產(chan) 生一個(ge) 閉合的磁回路，隨著探頭與(yu) 鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與(yu) 鐵磁性材料間的距離，即塗層厚度。用於(yu) 測量鐵及非鐵金屬基體(ti) 上塗層的厚度.

特征：

• 統計過程控製
• 加硬探頭頂部
• 高度鋼球確保測量的重現性
• 每秒讀數多達20個
• 內置數字信號處理傳感器
• 多點校準可達5點
• 大麵積易讀數顯示屏
• 顯示zui小zui大值
• 菜單控製界麵
• 上下關聯的在線幫助

探頭技術參數：

1.多點校準,在實驗室條件下符合提供的標準

2.零點校準，並且校準值和預期的塗層厚度接近

3.使用精密支架，不適用HD探頭

4.如果選擇“快速”，測量速度主要取決(jue) 於(yu) 操作

5.根據 DIN 55350第13部分

6.多點校準值優(you) 於(yu) 獲得的數據.

7.包括塗層

篤摯儀(yi) 器主要經營的儀(yi) 器有EPK壁厚測厚儀(yi) MiniTest FH7200   FH4探頭   測頭FH 4.1   EPK壁厚測厚儀(yi) MiniTest FH7400   EPK塗層測厚儀(yi) 探頭Printer MiniPrint7000  A/B掃描超聲波測厚儀(yi) DMS2E/DMS2/DMS2TC    超聲波測厚儀(yi) TT130   超聲波測厚儀(yi) TT120   高精密超聲波測厚儀(yi) PX-7DL   高精密超聲波測厚儀(yi) PX-7   A/B掃描高精密超聲波測厚儀(yi) PVX   超聲波測厚儀(yi) TT100   高精密超聲波測厚儀(yi) CL400探頭   帶A/B掃描功能的超聲波測厚儀(yi) MVX   高精密超聲波測厚儀(yi) CL5   超聲波測厚儀(yi) TT110  超聲波測厚儀(yi) MMX-6   A/B掃描超聲波測厚儀(yi) DMS Go   水下超聲波測厚儀(yi) UMX-2  超聲波測厚儀(yi) MMX-6DL  一體(ti) 化超聲波測厚儀(yi) PocketMIKE  超聲波測厚儀(yi) PosiTect0rUTG Std   超聲波測厚儀(yi) MX-3  超聲波測厚儀(yi) MX-5    超聲波測厚儀(yi) PosiTect0rUTGME   超聲波測厚儀(yi) MX-5DL    超聲波測厚儀(yi) DM5E Basic   超聲波測厚儀(yi) DM5E   超聲波測厚儀(yi) DM5EDL   濕膜測厚儀(yi) WetTest   德國EPK GalvanoTest小樣品夾具   德國EPK庫侖(lun) 鍍層測厚儀(yi) GalvanoTest 2000    超聲波塗層測厚儀(yi) PosiTector200   庫侖(lun) 鍍層測厚儀(yi) GalvanoTest 3000   塗層測厚儀(yi)