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Dualscope FMP20兩用法塗鍍層測厚儀高性價比

Dualscope FMP20兩用法塗鍍層測厚儀高性價比

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Dualscope FMP20兩(liang) 用法塗鍍層測厚儀(yi) 高性價(jia) 比
基於(yu) 自動的基材識別功能和兩(liang) 種測量法的結合(磁感應/渦流,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準),此通用型設備不僅(jin) 可以對鐵/鋼上的多種塗層進行測量還可以對非鐵金屬上的塗層進行測量。采用磁通道(霍爾效應法)時,可以測量更大的厚度範圍。

Dualscope FMP20兩用法塗鍍層測厚儀高性價比的詳細資料:

Dualscope FMP20兩(liang) 用法塗鍍層測厚儀(yi) 高性價(jia) 比

Dualscope FMP20:
由於(yu) 自動基板材料識別和兩(liang) 種測量方法的結合,該通用儀(yi) 器能夠測量鐵/鋼和非鐵磁金屬以及非導電材料上的許多塗層。根據您的測量應用,您可以根據磁感應法,渦流法或根據兩(liang) 種方法組合在一台儀(yi) 器中進行的塗層厚度測量。

Dualscope FMP20兩(liang) 用法塗鍍層測厚儀(yi) 高性價(jia) 比

磁感應測量原理

采用磁感應原理時,利用從(cong) 測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體(ti) 的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與(yu) 之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀(yi) ,原則上可以有導磁基體(ti) 上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與(yu) 基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀(yi) 器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chan) 品采用指針式表頭,測量感應電動勢的大小,儀(yi) 器將該信號放大後來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償(chang) 等地新技術,利用磁阻來調製測量信號。還采用設計的集成電路,引入微機,使測量精度和重現性有了大幅度的提高(幾乎達一個(ge) 數量級)。現代的磁感應測厚儀(yi) ,分辨率達到0.1um,允許誤差達1%,量程達10mm。

磁性原理測厚儀(yi) 可應用來測量鋼鐵表麵的油漆層,瓷、搪瓷防護層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nei) 的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(ye) 的各種防腐塗層。

電渦流測量原理

高頻交流信號在測頭線圈中產(chan) 生電磁場,測頭靠近導體(ti) 時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體(ti) 愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(ge) 反饋作用量表征了測頭與(yu) 導電基體(ti) 之間距離的大小,也就是導電基體(ti) 上非導電覆層厚度的大小。由於(yu) 這類測頭專(zhuan) 門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為(wei) 非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與(yu) 磁感應原理比較,主要區別是測頭不同,信號的頻率不同,信號的大小、標度關(guan) 係不同。與(yu) 磁感應測厚儀(yi) 一樣,渦流測厚儀(yi) 也達到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。

  采用電渦流原理的測厚儀(yi) ,原則上對所有導電體(ti) 上的非導電體(ti) 覆層均可測量,如航天航空器表麵、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁製品表麵的漆,塑料塗層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,通過校準同樣也可測量,但要求兩(liang) 者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體(ti) 亦為(wei) 導電體(ti) ,但這類任務還是采用磁性原理測量較為(wei) 合適。

Dualscope FMP20兩(liang) 用法塗鍍層測厚儀(yi) 高性價(jia) 比

主要特點:
自動探頭識別
用於(yu) 數據傳(chuan) 輸到PC的USB端口
大顯示器豐(feng) 富的對比度 - 240x160像素
內(nei) 存多達1000個(ge) 讀數
測量采集時的聲音信號
顯示平均值,標準差,zui小值,zui大值和範圍
容易適應樣品的形狀
使用一個(ge) 或兩(liang) 個(ge) 校準箔的附加校正校準
用於(yu) 材料和幾何特性的特征設置的主校準
能夠將主校準存儲(chu) 在連接的探頭中
測量單位可以在m和mil之間切換
可調節儀(yi) 器關(guan) 閉或連續操作
低電量指示
可鎖定鍵盤/限製操作模式
機械滑塊覆蓋測量操作不需要的鍵
各種語言設置

 


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