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Couloscope CMS2 STEP測厚儀*

Couloscope CMS2 STEP測厚儀*

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Couloscope CMS2 STEP測厚儀(yi) *
通過電位差測試儀(yi) 器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學的電位差進行測量。 可以用於(yu) 測量銅基層、鎳多層塗層和鉻塗層的厚度。

Couloscope CMS2 STEP測厚儀*的詳細資料:

Couloscope CMS2 STEP測厚儀(yi) *

 

篤摯儀(yi) 器主營關(guan) 節臂,粗糙度儀(yi) ,輪廓儀(yi) ,圓度儀(yi) ,圓柱度儀(yi) ,淬火硬化層深無損測量儀(yi) ,滲碳層測厚儀(yi) ,滲氮層深度無損檢測儀(yi) ,清潔度檢測係統,內(nei) 窺鏡,投影儀(yi) ,影像儀(yi) ,光譜儀(yi) ,測高儀(yi) ,測長儀(yi) ,齒輪齧合儀(yi) ,齒輪測量中心,探傷(shang) 儀(yi) ,測厚儀(yi) ,硬度計,熱像儀(yi) 等精密儀(yi) 器。

Couloscope CMS2 STEP多層鎳測厚儀(yi) 器根據庫侖(lun) 電量分析法進行測量,符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標準
 通過電位差測試儀(yi) 器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學的電位差進行測量。 可以用於(yu) 測量銅基層、鎳多層塗層和鉻塗層的厚度。
 COULOSCOPE® CMS STEP可以通過定位於(yu) 電位-時間表中相關(guan) 部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個(ge) 圖表能夠外部保存或通過RS232轉換到PC電腦中。

Couloscope CMS2 STEP測厚儀(yi) *

特性

吸引人的設計,大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。

操作簡單,菜單指引的操作提示。

電解區域直徑從(cong) 0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。

大約100個(ge) 預先定義(yi) 好的應用程式適用於(yu) 大多數的金屬鍍層,包括測量線材。

COULOSCOPE CMS雙層鎳鍍層庫倫測厚儀特征:

標準:DIN EN ISO 2177 ; ASTM B504

大屏幕點陣液晶顯示屏,可顯示文字與(yu) 圖形:126 * 70 mm

可設置和儲(chu) 存:50個(ge) 應用程式、600個(ge) 數據組;3 000個(ge) 數據

統計:平均值、zui大值、zui小值、標準偏差、測量次數、Cp、Cpk 和直方圖

使用多層菜單和軟鍵,使操作更方便

RS232 接口可通過電纜和傳(chuan) 輸軟件將數據傳(chuan) 到 PC

模擬輸出: 0 ~ -18V

輸入阻抗: > 2 KΩ

工作溫度: 10 ℃ ~ 40 ℃

儀(yi) 器重量: 6 kg 

電源: AC 220 V ,50-60 Hz;zui大功耗 ≤ 85 VA

尺寸: 350W * 140H * 200D  mm

COULOSCOPECMS

COULOSCOPECMS STEP

庫侖(lun) 鍍層厚度測試儀(yi)

分步測量: 鍍層厚度和電位差

典型應用領域

  • 該儀器幾乎可以測量金屬或非金屬基材上的任何一種金屬鍍層。 甚至可以測量多層鍍層.
  • 測量幾乎所有金屬鍍層厚度,無論基材是金屬或非金屬,鍍層也可以是多鍍層。典型的可測量厚度範圍 0.05 – 40 µm。 也適用於線材上鍍層的測量


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