Surtronic Duo便攜式粗糙度儀的詳細資料：

Surtronic Duo便攜式粗糙度儀(yi)

英國泰勒霍普森Taylor Hobson是不斷創新的精密計量領域的世界*，傑出的聲譽源自100多年的計量設計和精密製造工程經驗。代表著表麵粗糙度及形狀計量學領域的zui高精度等級的計量水平，並為(wei) 眾(zhong) 多應用領域提供接觸和非接觸測量解決(jue) 方案。擁有大量以發明為(wei) 代表的知識產(chan) 權，同時仍保有大規模的研發團隊和高額資金投入。並且不斷將科研成果應用於(yu) 新產(chan) 品的開發和改進，使其更加完善地服務於(yu) 用戶。

粗糙度儀(yi) 又叫表麵粗糙度儀(yi) 、表麵光潔度儀(yi) 、表麵粗糙度檢測儀(yi) 、粗糙度測量儀(yi) 、粗糙度計、粗糙度測試儀(yi) 等多種名稱。它具有測量精度高、測量範圍寬、操作簡便、便於(yu) 攜帶、工作穩定等特點，可以廣泛應用於(yu) 各種金屬與(yu) 非金屬的加工表麵的檢測，該儀(yi) 器是傳(chuan) 感器主機一體(ti) 化的袖珍式儀(yi) 器，具有手持式特點，更適宜在生產(chan) 現場使用。外形采用拉鋁模具設計，堅固耐用，抗電磁幹擾能力顯著，符合當今設計新趨勢。

Surtronic Duo是一款便攜式表麵粗糙度測試儀(yi) ，可以通過1鍵點擊來測量多個(ge) 粗糙度參數。 粗糙度測量參數如Ra，Rz，Rp，Rv和Rt顯示在明亮的直觀2.4“LCD彩色顯示屏上，其充電電池操作使其成為(wei) 快速，簡便，的現場測量的便捷方式 幾乎任何環境和表麵。

Surtronic Duo便攜式粗糙度儀(yi) 應用：
用戶友好的移動粗糙度測量裝置，用於(yu) 參數Ra，Rz，Rp，Rv，Rt，Rz1max，R3z（戴姆勒DB N 31007），Rsk，Rq和Rku的標準粗糙度測量。

執行：
3.7“彩色液晶顯示屏，zui多顯示4個(ge) 測量值
拆分顯示和進紙單元
兩(liang) 台機器之間的藍牙連接（zui大距離2米）
粗糙度參數符合DIN ISO和ASME標準
顯示主要輪廓/參數Pa，Pz，Pp，Pv和Pt
集成滑蓋式探頭，金剛石為(wei) 5μm
可以通過迷你USB端口充電

功能

Surtronic Duo 能夠測量Ra，並把結果顯示在LCD 顯示屏上，整個(ge) 過程隻需要5 秒鍾。另外，您也可以用來測量Rz、Rp、Rv 與(yu) Rt。

這套裝置不需要安裝與(yu) 程序編製，根據說明書(shu) 就很容易使用。