小型QNix4200測厚儀技術參數的詳細資料：

小型QNix4200測厚儀(yi) 技術參數

QNix4200技術參數：

磁性基體(ti) (Fe模式)     可以

非磁性基體(ti) (NFe模式)  不可以

測量範圍             Fe:0-3000um

顯示精度             0.1um

精度                 0-50um:≤±1um

                    50-1000um:≤±1.5%讀數

                    1000-3000um≤±3%讀數

zui小接觸麵           10×10mm/QNix4200

zui小曲率半徑         凸麵：3mm；凹麵：25mm

zui小基體(ti) 厚度         Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

溫度補償(chang) 範圍         0-60℃

顯示                 LCD液晶(帶背光)

探頭                 紅寶石固定式

電源                 2×1.5V幹電池

尺寸                 100×60×27mm

重量                 110g

QNix®4200（含 QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P、QNix®4200P5）可測量磁性金屬表麵非磁性塗鍍層厚度。（Fe）

✪非常：
在整個(ge) 測量範圍內(nei) 測量精度高。
✪操作簡單：
無校準隻有一個(ge) 按鈕。
單手操作
✪創新技術：
經過驗證的霍爾傳(chuan) 感器和渦流技術。集成測量探針，無電纜或插頭。
✪廣泛使用：
用於(yu) 鋼鐵和有色金屬測量的雙探針。
✪保護測量：
拋光的紅寶石，以保護探頭和表麵被測量。