ElektroPhysik測厚儀-MINITEST 3100的詳細資料：

ElektroPhysik測厚儀(yi) -MINITEST 3100

（一）校準有五種不同的方法：
1.標準校準：推薦用於(yu) 均勻表麵上的測量，如果物體(ti) 與(yu) ElektroPhysik零板具有相同的材料，尺寸和衝(chong) 擊度。
2.單點校準（無需使用振動箔調零）：如果允許誤差p為(wei) ±（讀數的3％*加上探頭的常數誤差），則推薦使用。 （恒定探針的實例：F.1.6：1μm）。
3.兩(liang) 點校準（使用校準箔進行校準和校準）：如果預期的讀數將接近校準值，則推薦探針的允許誤差為(wei) ±（1％... 3％讀數*（根據探頭）加恒定探頭誤差）*參照實驗室條件下提供的校準標準。
4.兩(liang) 點校準（使用一組兩(liang) 個(ge) 校準箔）：

•     a）推薦用於(yu) 粗糙表麵上的測量。

•     b）如果要預期的厚度在兩(liang) 個(ge) 校準箔的厚度之間，建議在光滑表麵上進行測量。

5.通過塗層（CTC）進行校準：使用校準箔校準。如果測試樣品被塗覆並且沒有未塗覆的樣品可用於(yu) 比較，則推薦使用。該方法適用於(yu) 以下探針：F05，F1.6，F3和FN1.6（僅(jin) 含鐵部件），F1.6 / 90，F2 / 90，F10，F20和F50。

（二）存儲(chu) 校準值
如果儀(yi) 表為(wei) 特定目的進行校準，則校準值將存儲(chu) 在存儲(chu) 器中，直到更改為(wei) 止（參見4.1.8校準值的穩定性）。如果要對某個(ge) 探頭進行校準，隻需進行重新校準即可。 這將自動刪除以前的校準值，並保存新的校準值以便立即使用。

校準程序應從(cong) 頭開始重新啟動，如果

• 讀取不正確

• 輸入了不正確的命令

• 儀(yi) 表已關(guan) 閉

（三）校準示例
校準是測量的重要的要求。 校準樣品與(yu) 產(chan) 品樣品匹配越緊密，校準越準確，因此讀數越高。 例如，如果要在鋼瓶上測量產(chan) 品，則質量ST37（軟鋼），ø6 mm，未塗覆樣品的校準必須在相同質量的鋼製圓筒上進行，直徑相同。
校準樣品必須以下列方式對應產(chan) 品樣品：

• 曲率半徑

• 基材特性

• 基板厚度

• 測量麵積大小

• 進行校準的點

校準樣品必須始終與(yu) 產(chan) 品本身的測量點相同，特別是在小零件的拐角和邊緣的情況下。 精準台在這裏將是無價(jia) 的。 有關(guan) 詳細信息，請參閱技術數據。