測量原理
該儀(yi) 器係列采用符合EN ISO 2177的庫侖(lun) 法。金屬塗層在受控條件下通過電流從(cong) 金屬或非金屬基底上去除 - 實際上是電鍍工藝的反映。 施加的電流與(yu) 要去掉的金屬質量成正比。 如果脫鍍電流和脫鍍麵積保持恒定，則剝離時間和塗層厚度之間的結果是明顯的相關(guan) 性。

使用與(yu) 電解微型浴相當的測量池來去除塗層。 測量區域由放置在電池上的塑料墊圈限定。 用於(yu) 電解的電解質被配製用於(yu) 各種塗層材料，使得僅(jin) 在施加電流時才發生剝蝕。 脫模過程由COULOSCOPE®儀(yi) 器的電子元件控製。 泵移動測量池中的液體(ti) 電解質，允許新鮮的電解質存在於(yu) 脫皮區域。

應用：
庫侖(lun) 法是塗層厚度測量的zui簡單方法之一。 適用於(yu) 電鍍行業(ye) 的生產(chan) 監控和成品檢驗。 投資相對較小，可以測量在典型應用中發生的許多塗層。 除了X射線熒光法，庫侖(lun) 法是鋼板或塑料基板（ABS）等多層塗層係統如Cr / Ni / Cu快速塗層厚度測量的其他方法。 當然，可以使用COULOSCOPE®係列測量單一和雙重塗層，例如鋼上的鋅或銀上的鎳上的錫。 COULOSCOPE®儀(yi) 器係列可保證在0.05 - 40μm（0.002 - 1.6 mils）範圍內(nei) 的金屬塗層的測量。

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測量原理：
步驟測試（同時厚度和電化學電位測定）是長時間標準化的測量方法，以同時確定單獨的塗層厚度和鎳塗層體(ti) 係的各個(ge) 塗層之間的電化學電位差。塗層厚度測量根據

第3頁所述的庫侖(lun) 法進行。使用塗有AgCl的銀參比電極捕獲電位分布。電位曲線顯示在顯示屏上，單個(ge) 塗層厚度和電位差可以通過圖上相應的光標定位來確定。

為(wei) 了用潛在的測量方法獲得可比較的測量，參考電極必須始終與(yu) 樣品的距離相同。這是使用特殊的測量單元*完成的。銀參考電極被設計為(wei) 錐形環形電極並形成測量單元的下殼體(ti) 部件，其中僅(jin) 放置必要的測量單元墊圈。測量單元的這種設計確保了參考電極和樣品之間始終均勻的距離。

應用：
多個(ge) 鎳塗層的質量控製需要測量裝置，可以在塗層程序之後立即檢查厚度和電化學電位。 COULOSCOPE®CMS STEP測量係統由於(yu) 其簡單的操作和參考電極的簡單操作，適用於(yu) 電鍍廠惡劣環境中的應用，為(wei) 此已開發出來。電解鍍鎳用於(yu) 裝飾性防腐蝕和改善機械表麵性能，例如硬度。特別是在汽車行業(ye) ，鍍鎳部件必須滿足腐蝕行為(wei) 的高要求。單鎳塗層不適合此目的。因此，非常複雜的塗層係統正在開發中，其由兩(liang) 個(ge) ，三個(ge) 或甚至四個(ge) 不同的鎳塗層以及鉻或銅的附加塗層組成。

使用STEP-View進行評估和數據存儲(chu)
PC軟件程序STEP-View可用於(yu) 保存並方便地檢測測量的潛在地塊。作為(wei) COULOSCOPE®CMS STEP標準設備的一部分運輸。不過，也可以直接在儀(yi) 器上進行評估。在STEP-View程序中，可以通過單擊鼠標按鈕從(cong) 儀(yi) 器讀取測量的電位分布。塗層厚度和電位差異的確定發生在兩(liang) 個(ge) 單獨的圖中。通過在圖的相關(guan) 部分定位zui多5個(ge) 標記可以輕鬆確定有趣的值。數據可以導出到Excel電子表格，圖形可以流行的圖形格式保存，並且可以設置大量的printform模板。

係統總覽：
為(wei) 了建立功能測量係統，COULOSCOPE®CMS或COULOSCOPE®CMS STEP需要帶有測量單元（STEP測量單元）的測量台。
不同的測量台型號包括測量電池可用於(yu) 各種測量應用。

一般特征：
•大尺寸顯示測量值
•簡單選擇脫皮率和測試麵積大小
•可用的測試區域尺寸：ø3.2（128），2.2（88）和1.5（60）mm（密耳）。 支架V18附加0.6毫米（24毫米）
•剝離率可調0.1至50μm/ min
•支架V18：通過泵控製電池的充填和排空。 當電解質飽和時，進行多次測量，一次充電，並發出警告
•液晶顯示屏上電池電壓的圖形顯示
•縮放功能可放大有趣的繪圖部分
•PC和打印機連接的接口
•用於(yu) 單元電壓的模擬圖表記錄器的輸出
•可選擇的測量單位：μm或mils
•可選語言：德語，英語，法語，意大利語，西班牙語
•關(guan) 閉儀(yi) 器時存儲(chu) 所有應用參數

COULOSCOPE®CMS版本的特點
•以表格或圖形格式評估測量數據
•關(guan) 閉儀(yi) 器時的存儲(chu) 測量數據
•自動或手動測量關(guan) 閉
 

版本COULOSCOPE®CMS STEP的特點
•可調放電電流
•使用光標確定塗層厚度和電位差
•用於(yu) 調節銀參比電極（產(chan) 生所需AgCl塗層）的自動測量順序
•手動測量關(guan) 閉

COULOSCOPE®儀(yi) 器的標準功能：
•73個(ge) 用於(yu) 大多數金屬塗層的標準測量應用
•14個(ge) 存儲(chu) 的標準測量應用，用於(yu) 電線上的塗層厚度測量
•2個(ge) 用於(yu) STEP測試測量的儲(chu) 存標準測量應用（僅(jin) 適用於(yu) 儀(yi) 器型號CMS STEP）。

如果標準測量應用程序不適用於(yu) 您的特定材料組合，則可以定義(yi) 特殊測量應用程序，特別適用於(yu) 您的特定情況。

校準
在校準期間，確定校正因子（校準因子）。由於(yu) 電池墊片直徑的製造公差以及塗層材料的塗層材料密度或合金組成的變化，可能需要該校正因子。對於(yu) STEP-Test測量，可以輸入一個(ge) 因素。
應用
應用是存儲(chu) 測量應用特定參數（例如標準或特殊測量應用，校準因子，測量單位等）和測量數據的存儲(chu) 區域。應用程序可以複製，編輯和刪除。

標準測量應用和電解質
共有89種標準測量應用可用於(yu) 各種應用。下表列出了可能的測量應用的選擇。對於(yu) 多塗層係統，待測塗層下方的相應塗層被認為(wei) 是基材。

Optional Accessories可選附件：

可提供廣泛的附件，用於(yu) 測量，存儲(chu) 儀(yi) 器和定位測試樣本。

測量台V18具有各種樣品支撐臂，球形接頭樣品支撐帶可自由移動的支撐板。 還有一個(ge) 也可以容納三個(ge) 100ml實驗室瓶的測量池支架.

廣泛應用的標準支架V18和支架V27用於(yu) 測量導線上塗層的厚度

校準
校準過程建立了一個(ge) 校正因子，考慮到塑料密封件的實際直徑與(yu) 參考值的偏差，合金組成的偏差和塗層材料密度的波動等因素。

使用5 x 5個(ge) 單獨測量的測試區域校準測量係統的標準

夾鉗試樣副 也適合安裝在測量台V18和V24的支撐板上

係統概述功能測量站包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2 STEP，以及帶有測量單元（例如STEP測量單元）的支撐架。 各種支架設計，包括測量單元，可用於(yu) 滿足各種應用。