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FISCHER新型FMP30-40膜厚儀測厚儀的詳細資料:
FISCHER新型FMP30-40膜厚儀(yi) 測厚儀(yi)
FISCHER新型FMP30-40膜厚儀(yi) 測厚儀(yi)
新的FMP30-40係列比標準型號FMP10-20更加通用。這些工具集成了其他特性,如為(wei) 許多應用程序提供更多內(nei) 存以及廣泛的統計和圖形評估。公差限值可以輸入到可校準的應用中,生產(chan) 過程可以統計分析。默認模式可以切換為(wei) 矩陣模式,用於(yu) 連接的多點測量。這些隻是下麵描述的眾(zhong) 多特性中的一小部分。
根據您的測量應用程序中,您可以根據磁感應的塗層厚度測量方法(DELTASCOPE®FMP30),渦流方法(同位素探傷(shang) 儀(yi) ®FMP30)或根據這兩(liang) 種方法結合在一個(ge) 樂(le) 器(DUALSCOPE®FMP40)。您將能夠使用各種類型的費舍爾插件類型探針來度量大多數標準或特殊的應用程序。
主要特性:
自動基礎材料識別(FMP40)。
可存儲(chu) 多達20000個(ge) 讀數
多達100個(ge) 可校準的應用程序
可將讀數分配至4,000個(ge) 區塊
統計顯示塊中的公共特征值和終結果。特征方差分析值的輸出
圖形測量顯示為(wei) 帶有高斯圖的直方圖
能夠顯示工藝公差範圍,並計算相關(guan) 工藝性能指標cp和cpk
當超過極*,可發出聲音和視覺警告
外鍵觸發測量采集,如在直徑較小的空心圓筒中采集
通過未知塗層校準的選項(隻有磁感應法)
能夠啟用矩陣測量模式的連接多點測量
平均測量數據的能力:隻存儲(chu) 幾個(ge) 讀數的平均值
測量采集可通過區域測量實現:隻采集單個(ge) 讀數,直到探測發射被捕獲並平均
![]() | Deltascope®FMP30 以及鋼和鐵上的油漆、漆、搪瓷或塑料塗層。 用於(yu) 鋁上的陽極塗層以及非導電材料上的導電塗層。 這個(ge) 通用儀(yi) 器能夠測量鐵和鋼、非鐵磁性金屬和非導電材料上的許多塗層。 |
所有儀(yi) 表的電源:4節AA電池或可充電電池組
(1)EΔ渦流方法
(2)MΔ磁感應方法
(3)通過交流電源補充
注意:所有探測±1%的測量值或±。04密耳(1我¼m)哪個(ge) 更大。