FISCHERSCOPE XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀的詳細資料：

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FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀(yi) 簡介：

一一一 耐用且價(jia) 格便宜的X射線熒光測量儀(yi) ，用於(yu) 無損塗層厚度測量和材料分析。

           FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀(yi) ，它結構緊湊，小巧耐用。它們(men) 十分適用於(yu) 無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由於(yu) 采用了Fischer基本參數法，無論是鍍層係統還是固體(ti) 和液體(ti) 樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。可測量的元素範圍從(cong) 氯（17）到鈾（92）。XUL型X射線光譜儀(yi) 有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀(yi) 器。本款儀(yi) 器特別適用於(yu) 客戶進行質量控製、進料檢驗和生產(chan) 流程監控。

典型的應用領域有：
              在小部件如螺釘、螺栓和螺帽上的測量
              在連接器和電氣元件上的測量
              電鍍液的溶液成分分析

菲希爾熒光鍍層分析儀(yi) x-ray設計理念：
FISCHERSCOPE X-RAY XUL設計為(wei) 界麵友好、結構緊湊的台式測量儀(yi) 器係列。根據使用用途，有以下兩(liang) 種不同版本型號，分別對應不同的樣品平台：
        XUL： 固定平麵平台
        XUL XYm： 手動X/Y平台

一 高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能，可以定位測量位置。
一 盡管儀(yi) 器本身結構緊湊，但是由於(yu) XUL光譜儀(yi) 配備了寬敞的測量室，從(cong) 而可以測量更大體(ti) 積的樣品。
一 外罩底部留下了空隙，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大麵積的印製線路板等。
一 通過強大而界麵友好的WinFTM®軟件，可以在電腦上便捷地完成整個(ge) 測量過程，包括測量結果的數據分析和所有相關(guan) 信息的顯示等。
一 XUL型光譜儀(yi) 是安全而保護全麵的測量儀(yi) 器，型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法令要求
  

參數介紹：

更多詳細信息，請參考FISCHERSCOPE® X-RAY XUL參數或。