fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測厚儀的詳細資料：

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FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀(yi) ：

        FISCHERSCOPE®-X-RAYXDLM®儀(yi) 器是普遍適用的能量色散X射線光譜儀(yi) 。 它們(men) 構成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型係列開發的下一步。 像它們(men) 的前輩一樣，它們(men) 特別適合於(yu) 無損厚度測量和薄塗層分析以及批量生產(chan) 的零件和印製板上的自動測量。有三個(ge) 型號：XDLM 231具有平麵支撐台，XDLM 232具有手動操作的X / Y台。 XDLM 237配備了一個(ge) 電動X / Y平台，當打開防護罩時，該平台會(hui) 自動移到裝載位置。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM係列與(yu) XUL和XULM係列密切相關(guan) ：兩(liang) 者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀(yi) 器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為(wei) 不同的測量應用創造*佳的激勵條件。

兩(liang) 種型號的儀(yi) 器都配備了比例接收器探測器。即使對於(yu) 很小的測量點，由於(yu) 接收器的接收麵積很大，仍然可以獲得足夠高的計數率，確保良好的重複精度。比較XUL和XULM儀(yi) 器而言，XDL和XDLM係列儀(yi) 器測量測量方向從(cong) 上到下。它們(men) 被設計為(wei) 用戶友好的台式機，使用模塊化結構，也就是說它們(men) 可以配備簡單支板，各種XY工作台和Z軸以適應不同的需求。

特征：
    • 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條件:50KV,50W
    • X射線探測器采用比例接收器
    • 準直器：固定或4個(ge) 自動切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
    • 基本濾片：固定或3個(ge) 自動切換
    • 測量距離可在0-80 mm範圍內(nei) 調整
    • 固定樣品支撐台 ，手動XY工作台
    • 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。刻度線經過校準，顯示實際測量點大小。
    • 設計獲得許可，防護全麵，符合德國X射線條例第4章第3節

典型應用領域:
    • 大批量電鍍件測量
    • 防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
    • 電鍍行業(ye) 槽液分析
    • 線路板行業(ye) 如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
    • 測量接插件和觸點的鍍層
    • 電子和半導體(ti) 行業(ye) 的功能性鍍層測量
    • 黃金，珠寶和手表行業(ye)

應用實例:

        XDLM測量係統經常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區都是很小的結構如*或突起，測量這些區域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得大的信號強度。