費希爾測厚儀xdl 210的詳細資料：

費希爾測厚儀(yi) xdl 210

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀(yi) 簡介：憑借電機驅動（可選）與(yu) 自上而下的測量方向，XDL 係列測量儀(yi) 器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從(cong) 而能夠根據不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀(yi) 器。比較XUL和XUM儀(yi) 器而言，XDL和XDLM係列儀(yi) 器測量測量方向從(cong) 上到下。它們(men) 被設計為(wei) 用戶友好的台式機，使用模塊化結構，也就是說它們(men) 可以配備簡單支板，各種XY工作台和Z軸以適應不同的需求.
           配備了可編程XY工作台的版本的XDL係列儀(yi) 器可用於(yu) 自動化係列測試。它可以很方便地掃描表麵，這樣就可以檢查其均勻性。為(wei) 了簡單快速定位樣品，當測量門開啟時，XY工作台自動移動到加載位置，同時激光點指示測量點位置。對於(yu) 大而平整的樣品，例如線路板，殼體(ti) 在側(ce) 麵有開口(C形槽).由於(yu) 測量室空間很大，樣品放置方便，儀(yi) 器不僅(jin) 可以測量平麵平整的物體(ti) ，也可以測量形狀複雜的大樣品(樣品高度可達140mm  .  Z軸可電動調整的儀(yi) 器，測量距離還可以在0- 80 mm的範圍內(nei) 自由選擇，這樣就可以測量腔體(ti) 內(nei) 部或表麵不平整的物體(ti) (DCM方法)。

特性：

• ■X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務
• ■由於測量距離可以調節（大可達 80 mm），適用於測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
• ■通過可編程 XY 工作台與 Z 軸（可選）實現自動化的批量測試
• ■使用具有高能量分辨率的矽漂移探測器，非常適用於測量超薄鍍層（XDAL 設備）

應用：鍍層厚度測量

• ■大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
• ■電路板上較薄的導電層和/或隔離層
• ■複雜幾何形狀產品上的鍍層
• ■鉻鍍層，如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料製品
• ■氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質塗層厚度測量
•  材料分析
• ■電鍍槽液分析
• ■電子和半導體行業中的功能性鍍層分析

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀設計理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為(wei) 界麵友好的台式測量儀(yi) 器係列。我們(men) 會(hui) 根據樣品平台的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸係統來設定不同型號的儀(yi) 器以滿足實際應用的需求。XDL210：平麵樣品平台，固定的Z 軸係統，篤摯儀(yi) 器正規代理。
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。配有馬達驅動X-Y 樣品平台的儀(yi) 器還配備了激光點，可以輔助定位並快速對準測量位置。測量箱底部的開槽專(zhuan) 為(wei) 大而扁平的樣品設計，可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如大型的線路板。所有的操作，測量數據的計算，以及測量數據報表的清晰顯示都是通過強大而界麵友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。

篤摯儀(yi) 器擁有經驗豐(feng) 富的質量控製團隊，各類性能優(you) 異，效率高，耐用性和成本效益高的測量儀(yi) 器，廣受客戶青睞的進口儀(yi) 器品牌，和正規代理資質。

型號說明：