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粗糙度儀Surtronic S116|泰勒霍普森的詳細資料：
泰勒霍普森粗糙度儀(yi) Surtronic S116
英國泰勒Surtronic S116粗糙度儀(yi) 技術規格：
測量能力 | S-116 | S-128 | |
傳(chuan) 感器 | 量程 | 200 µm / 100 µm / 10 µm | 400 µm / 100 µm / 10 µm |
分辨率 | 100 nm / 20 nm / 10 nm | 50 nm / 10 nm / 5 nm | |
低噪音 (Ra) | 250 nm / 150 nm / 100 nm | 150 nm / 100 nm / 50 nm | |
重複性 (Ra) | 1 % 值 + 噪 音 | 0.5 % 值 + 噪 音 | |
傳(chuan) 感器類型 | 電感 | ||
測量力 | 150-300 mg | ||
測頭針尖半徑 | 5 µm (200 µin)默認/2 µm (80 µin)或10 µm (400 µin) 可選 | ||
測量類型 | 導塊滑動 | ||
校正 | 過程 | 自動軟件校正程序 | |
標準 | 能夠根據ISO 4287粗糙度標準校正 | ||
分析 | 濾波器取樣長度 | 0.25 mm/0.8 mm/2.5 mm | |
濾波器類型 | 2CR/高斯 | ||
評價(jia) 長度 | 0.25 mm-17.5 mm(0.01 in-0.70 in) | 0.25 mm-25.0 mm(0.01 in-1.00 in) | |
X軸zui大行程 | 17.5 mm | 25.5 mm | |
速度 | 測量速度 | 1 mm/秒 (0.04 in/秒) | |
返回速度 | 1.5 mm/秒 (0.06 in/秒) | ||
概述：Surtronic S100係列是*耐用的便攜式表麵粗糙度測量儀(yi) ，適用於(yu) 車間、工業(ye) 和檢測間的應用。
泰勒.霍普森 Surtronic S100 係列有兩(liang) 種型號可供選擇：S116 粗糙度儀(yi) 是標準產(chan) 品；S128則能夠提供提高測量範圍和分析能力。
SURTRONIC S116 粗糙度儀(yi) 能夠為(wei) 您的粗糙度測量需求提供多種解決(jue) 方案， 包括多樣化的係統和應用相關(guan) 的配件， 並且能夠為(wei) 您的特殊需求定製工裝。耐衝(chong) 擊性橡膠化塑性整個(ge) 機身， 聚脂薄膜保證了觸摸屏的持久耐用性，抗磨損的齒輪和軸承堅固的不鏽鋼驅動機構。 大容量鋰聚合物電池， 一次充電後可進行至少2000次測量。即開即用能夠讓儀(yi) 器在待機狀態下1秒即可啟用測量， 充滿電後待機能力長達5000個(ge) 小時。
任何表麵， 任何高度。 包括一個(ge) 50mm長的測針升降裝置和直角附件，以及深達70mm的測量能力， 在不需要昂貴的墊塊、支架或工裝的情況下， 對具挑戰性的測量位置進行檢測。 防滑的V型腳架設計使係統能夠用在平滑或彎曲的平麵上。 測針還能夠反方向底部測量。
像其它導航或智能手機一樣， 擁有4.3寸大尺寸觸屏， 易讀性強。 一頁上可顯示多至7個(ge) 參數。可將屏幕旋轉四個(ge) 方向。 輕觸快捷鍵即可進行所有關(guan) 鍵設置。A類型USB 2.0可連接便攜式打印機或USB存儲(chu) 設備。 迷你USB 2.0用於(yu) 充電或連接電腦傳(chuan) 輸數據。
泰勒•霍普森有限公司專(zhuan) 業(ye) 從(cong) 事超高精度表麵及其輪廓形狀測量，是全球*的圓度/圓柱度儀(yi) 、表麵粗糙度輪廓儀(yi) 、白光幹涉表麵輪廓儀(yi) 及超精單點金剛石車床等設備的供應商，總部位於(yu) 英國萊斯特市，我們(men) 提供接觸與(yu) 非接觸測量方法以滿足多種應用需求，公司產(chan) 品廣泛應用於(yu) 現代製造業(ye) 及新興(xing) 產(chan) 業(ye) ，如半導體(ti) 、硬盤、精密光學、微納米學等。
