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泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S116|泰勒

泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S116|泰勒

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泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S116|泰勒的詳細資料:

泰勒霍普森粗糙度儀(yi) Surtronic S116|泰勒

泰勒粗糙度儀(yi) Surtronic S116測量參數

SURTRONIC S116 粗糙度儀(yi)

一、S116標準配置:

顯示單元;112-1502標準測針;測針連接線;多刻線樣板;測針提升機構;USB接口充電器;使用手冊(ce) ;USB通訊電纜;儀(yi) 器箱

二、技術參數

數據顯示 :

顯示屏每頁顯示7個(ge) 測試結果,屏幕上可顯示輪廓圖(剖麵圖)

可以打印測試結果和圖形

使用Talyprofile軟件可以連接電腦,分析測試結果

數據存儲(chu) :

儀(yi) 器可以存儲(chu) 100個(ge) 測試數據和一個(ge) 圖形

儀(yi) 器支持U盤大4G,多可存儲(chu) 39,000個(ge) 圖形,每批可存儲(chu) 10萬(wan) 個(ge) 測試結果,共70批數據。

使用Talyprofile軟件與(yu) 電腦連接可以存儲(chu) 無限數據。

電源:

充電器 :USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充電時間:4小時

電池壽命:充電一次可以做2000次測試

待機時間:5000小時

由待機狀態到開機測試狀態,長時間不超過1秒I

自動關(guan) 機:30秒– 6小時可以自行設置

三、技術指標:

測量範圍:200 um 100 um 10 um

分辨率:  100 nm 20 nm 10 nm

底噪(Ra):250 nm 150 nm 100 nm

重複精度 (Ra) :1%測試值+底噪

傳(chuan) 感器原:電感

測量力:150-300mg

測針針尖半徑:標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)

測試方式:滑動掃描

校準:

自動軟件校準    標準:ISO4287

四、測試參數:

三個(ge) 取樣長度:0.25mm、0.8mm、2.5mm

二個(ge) 濾波器:2CR、Gaussian

評定長度:0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選

大行程:17.5mm

測試速度:

測試速度:1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度:1.5mm/sec(0.06in/sec)

測試參數:

執行標準:ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO標準可以測量12個(ge) 參數: Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME標準可以測量11個(ge) 參數:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS標準可以測量14個(ge) 參數:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 :R3z (Daimler Benz)

測試單位:um/uin

五、可選附件

測試平台:

00級大理石平板:400X250X70mm

有效高度:280mm。

可調Y軸V型鐵

可調範圍:±5mm

V型鐵長度100mm

SURTRONIC S116比SURTRONIC 25有如下改進:

1、電池由堿性9V改為(wei) 鋰電充電電池;

2、顯示屏為(wei) 觸摸屏;

3、可以顯示測試圖形;

4、SURTRONIC 25隻能測試10個(ge) 參數,S116在不同標準下可以測量12、11、14個(ge) 參數(見技術參數);

5、原來SURTRONIC 25使用電位器校準測試結果,現在改為(wei) 自動軟件校準。方便使用;

6、顯示屏顯示的結果(數據和圖形)可以旋轉,可以方便的從(cong) 四個(ge) 方向觀察測試結果;

7、儀(yi) 器底部為(wei) V形,測試軸類部件方便可靠;

8、測試數據存儲(chu) 增加了存儲(chu) 圖形功能;

9、可以使用U盤直接存儲(chu) ,一個(ge) 4G容量U盤可存儲(chu) 3.9萬(wan) 個(ge) 圖形,數據可以存儲(chu) 70批次,每批次為(wei) 10萬(wan) 個(ge) 測試數據。

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