BYK 4840桔皮儀(yi) dual 1. 針對平麵和曲麵（曲率半徑大於(yu) 50cm） 2. 傳(chuan) 統的 LW、SW 和客戶自定義(yi) 標尺 3. 測量範圍擴展到中光澤表麵 4. 結構譜線分析外觀變化，實現優(you) 化 5. 晦澀度 du 和 DOI 的測量與(yu) 塗裝係統無關(guan) 6. 輕鬆的滾輪操作，大型多語言顯示屏