fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測厚儀(yi) 有三個(ge) 型號：XDLM 231具有平麵支撐台，XDLM 232具有手動操作的X / Y台。 XDLM 237配備了一個(ge) 電動X / Y平台，當打開防護罩時，該平台會(hui) 自動移到裝載位置。

FISCHERSCOPE XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀(yi) 是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀(yi) ，它結構緊湊，小巧耐用。它們(men) 十分適用於(yu) 無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。

X射線熒光鍍層測厚儀(yi) helmut-fischer xan500 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(yi) 。它特別適用於(yu) 測量和分析超薄鍍層以及進行材料分析。

德國菲希爾鍍層測厚儀(yi) xdv-μ-pcb XDV-μ型係列儀(yi) 器是專(zhuan) 為(wei) 在很微小結構上進行高精度鍍層厚度測星和材料分析而設計的。該係列儀(yi) 器均配備用於(yu) 聚焦X射線束的多毛細管透鏡, 光斑直徑（ FWHM ）可達10至60μm。

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